数字系统小延迟缺陷诊断及测试- - 理论与方法

项目名称： 数字系统小延迟缺陷诊断及测试- - 理论与方法

项目编号： No.61170063

项目类型： 面上项目

立项/批准年度： 2012

项目学科： 自动化技术、计算机技术

项目作者： 向东

作者单位： 清华大学

项目金额： 60万元

中文摘要： 小延迟缺陷（SDD）是数字系统高度集成化的必然产物。SDD是指延迟故障的延迟量很小，不容易被ATE识别。测试要求将故障效应沿着通过每一信号线的长路径传播。当路径延迟及SDD的延迟量和大于时钟周期时，该缺陷就被检测到。小延迟缺陷的诊断仍然是空白，测试集要求能够识别小延迟缺陷的位置。通过获取的信息指导修正现有的设计及生产流程，因而提高成品率。本项目拟提出不同的SDD诊断方法：（1）基于路径识别的诊断测试码产生方法，及（2）基于缺陷概率的故障诊断。基于缺陷概率的SDD诊断是通过缺陷概率分析来引导故障点的识别。基于路径识别的故障诊断是通过新的SDD基于诊断的测试码产生来实现的。后者涉及路径识别，诊断测试码产生及故障点确认等。诊断测试集合会控制得足够小。本项目还将提出有效的SDD测试精简策略及测试压缩技术。本项目还将考虑一些动态因素，如温度及电压等对路径延迟的影响，基于此提出一种新的SDD测试方法。

中文关键词： 测试精简；热驱动测试；热驱动路径选择；最长可测试路径选择；

英文摘要：

英文关键词： test compaction；thermal-driven testing；thermal-driven path selection；longest testable path selection；