基于随机缺陷的版图布线优化算法研究

项目名称： 基于随机缺陷的版图布线优化算法研究

项目编号： No.61173088

项目类型： 面上项目

立项/批准年度： 2012

项目学科： 自动化技术、计算机技术

项目作者： 王俊平

作者单位： 西安电子科技大学

项目金额： 59万元

中文摘要： 随机缺陷的布线优化是集成电路可制造性设计的重要组成部分之一，它在纳米技术节点的集成电路设计、制造和测试等方面有着广泛的应用。项目旨在采用图像处理技术探索布线综合优化的新方法，主要研究内容包括：随机形状缺陷和布线的表征；布线系统中考虑缺陷分布特性的布线优化代价函数的建立；基于数学形态学的布线热点的检测；布线热点的消除和布线优化处理中并行技术的研究。项目的研究不仅能丰富和发展布线优化的理论和算法，而且能保证在不增加硬投资的同时，取得集成电路性能、功率、面积、可靠性和成品率的提高，同时还会为相关学科和产业的发展提供技术支持。项目的研究内容涉及图像处理、模式识别、算法设计与分析、集成电路可制造性设计、数学形态学理论与应用等诸多学科，因此具有很高的难度，需要有全新的思路才能得以突破。

中文关键词： 版图优化；随机缺陷；数学形态学；图像处理；Hadoop

英文摘要：

英文关键词： Layout optimization；DFM；Mathematical morphology；Image processing；Hadoop