项目名称: 氮化镓基LED材料的二次离子质谱定量分析研究
项目编号: No.21405076
项目类型: 青年科学基金项目
立项/批准年度: 2014
项目学科: 数理科学和化学
项目作者: 潘拴
作者单位: 南昌大学
项目金额: 25万元
中文摘要: SIMS可以实现高灵敏度、高深度分辨率的深度剖析,在GaN基LED的基体成分分析、掺杂控制、污染表征等方面都发挥着重要作用,是目前国内外该领域众多研究机构和主要大型企业在机理研究、工艺改进和质量提高中所依赖分析手段。然而,由于GaN基LED复杂的多层膜结构,会在深度剖析过程中产生基体效应和能量偏移,使得用SIMS很难同时实现对不同异质结层的准确定量分析。 本项目拟围绕基体效应和能量偏移两个问题,通过样品的设计与制备、基体组分表征、SIMS测试与理论分析,研究基体组分、掺杂、异质结对二次离子产额及能量分布的影响,分析半导体能带结构在SIMS表征中的作用机理。通过材料物理化学和质谱分析相结合,探索针对GaN基LED材料的SIMS定量表征新技术。
中文关键词: 氮化镓;发光二极管;二次离子质谱;基体效应;能量分布
英文摘要: SIMS with excellent detection limits and high depth resolution is a key tool for LED based on GaN, which can apply matrix composition analysis, doping control and pollution characterization. However, due to the complex multilayer structures, SIMS quantita
英文关键词: GaN;LED;SIMS;matrix effect;energy distribution