SRAM型FPGA单粒子故障的“逻辑探针”间接检测方法研究

项目名称： SRAM型FPGA单粒子故障的“逻辑探针”间接检测方法研究

项目编号： No.61171019

项目类型： 面上项目

立项/批准年度： 2012

项目学科： 无线电电子学、电信技术

项目作者： 杨俊

作者单位： 中国人民解放军国防科学技术大学

项目金额： 60万元

中文摘要： 单粒子效应一直是制约空间电子仪器发挥效能的主要因素之一。作为空间电子仪器的关键信号处理器件，SRAM型FPGA自应用以来，单粒子故障就备受关注。器件集成度越高，内核工作电压越低，受单粒子效应的影响就越显著，单粒子故障检测已经成为空间电子仪器设计必须慎重考虑的问题。课题将针对SRAM型FPGA单粒子故障的低代价间接检测问题，从FPGA的单粒子故障模式与故障特性出发，研究FPGA的"五要素"单粒子故障分析模型，研究描述单粒子故障产生、传递和耦合过程的状态转移方程，推导描述单粒子故障耦合程度的归一化耦合因子；以"逻辑探针"和目标设计之间的耦合度最大化为原则，优化"逻辑探针"的布局布线算法和"逻辑探针"触点的类型，提高单粒子故障间接检测概率、降低虚警概率和检测方法带来的资源与速度性能方面的损失，从而为加强我国SRAM型FPGA的空间应用能力、提高空间电子仪器的整体可靠性提供技术支撑。

中文关键词： 单粒子效应；单粒子故障；SRAM型FPGA；间接检测；

英文摘要：

英文关键词： single event effect；SEE fault；SRAM-based FPGA；indirect detection；