纳米级射频/数模混合信号集成电路单粒子瞬态效应软错误的模拟分析方法研究

项目名称： 纳米级射频/数模混合信号集成电路单粒子瞬态效应软错误的模拟分析方法研究

项目编号： No.61176030

项目类型： 面上项目

立项/批准年度： 2012

项目学科： 信息四处

项目作者： 余金山

作者单位： 中国电子科技集团公司第二十四研究所

项目金额： 68万元

中文摘要： 射频/数模混合信号集成电路已经进入纳米时代。单粒子瞬态效应已经成为引起纳米级射频/数模混合信号集成电路可靠性问题的重要原因之一。本项目旨在开展纳米工艺射频/数模混合信号集成电路的单粒子瞬态效应软错误模拟分析方法的先期研究。面向纳米工艺，结合射频/数模混合信号集成电路设计、模拟仿真方法、信号处理技术和单粒子辐照实验，研究纳米器件SET瞬态效应、建模仿真方法和SET脉冲特征建模方法；单粒子瞬态脉冲波形在纳米级射频/数模混合信号集成电路中的传播机理、模拟仿真和分析方法； SET脉冲波形的测量方法及其对电路功能和性能指标影响的分析方法；单粒子瞬态效应的测试验证方法，形成系统化、层次化的纳米级射频/数模混合信号集成电路单粒子瞬态效应软错误的模拟分析框架和方法，为开发下一代高性能纳米级抗辐射射频/数模混合信号集成电路奠定理论基础、方法指导和抗单粒子瞬态效应的加固设计评估，有效提高和保障电路的可靠性。

中文关键词： RF/数模混合IC；单粒子瞬态效应；软错误；模拟分析；

英文摘要：

英文关键词： RF/Mixed-Signal IC；SET；Soft error；simulation analysis；