基于片内超速时延测试的小时延缺陷检测方法研究

项目名称： 基于片内超速时延测试的小时延缺陷检测方法研究

项目编号： No.61402031

项目类型： 青年科学基金项目

立项/批准年度： 2014

项目学科： 自动化技术、计算机技术

项目作者： 裴颂伟

作者单位： 北京化工大学

项目金额： 27万元

中文摘要： 在深亚微米以及纳米工艺尺寸下，为了确保芯片的品质和可靠性，小时延缺陷的检测已经至关重要。本项目拟开展片内超速时延测试方法的研究，通过在芯片片内提供频率精准的超速时延测试时钟，并以此降低被测通路的时隙值，从而为小时延缺陷的检测提供关键技术和实现方案，主要研究内容包括：(1) 研究基于频率编程和环形振荡校正的超速时延测试时钟生成方法，从而在工艺偏差的影响下，依然能够为芯片提供频率精准的超速时延测试时钟; (2) 研究基于短通路可测优先的超速时延测试向量选择方法，并以此降低超速时延测试时工艺偏差导致的小时延缺陷漏测概率；(3) 研究基于通路时延分析的超速时延测试向量分组和压缩方法，并以此降低超速时延测试的应用时间和测试向量规模。通过在芯片片内设计超速时延测试时钟生成结构以及相应的测试向量选择、分组和压缩方法，可以对芯片中的小时延缺陷进行有效检测，从而对于提升芯片的品质和可靠性具有非常重要的意义。

中文关键词： 超速时延测试；可测性设计；时延测量；小时延缺陷；

英文摘要： Detecting small delay defects has become vital for ensuring the quality and reliability of chips in the very deep-submicron or nano-meter process technologies. This project will conduct research on on-chip faster-than-at-speed delay testing methods. By pr

英文关键词： Faster-than-at-speed Delay Testing；Design for Testability；Delay measurement；Small Delay Defect；