辐照导致电荷俘获存储器件可靠性失效机制研究

项目名称： 辐照导致电荷俘获存储器件可靠性失效机制研究

项目编号： No.61306107

项目类型： 青年科学基金项目

立项/批准年度： 2014

项目学科： 无线电电子学、电信技术

项目作者： 姜丹丹

作者单位： 成都信息工程学院

项目金额： 25万元

中文摘要： 在航空存储应用领域中，对辐照效应导致电荷俘获存储器件可靠性失效机理的分析研究是提高其抗辐照特性的前提和保证。本项目从深层次的物理机制方面着眼于辐照环境中高能粒子对电荷俘获存储器件可靠性的影响针对电离辐照所导致的在擦写过程中新缺陷的产生过程，缺陷陷阱的态密度，氧化层和界面陷阱的产生机制，缺陷陷阱在禁带中的能级分布，界面陷阱的退化机制以及建立电离辐照导致电荷俘获存储器件可靠性退化的物理模型方面展开研究。为优化其抗辐照特性提供一定的理论基础和技术支持。

中文关键词： 总剂量辐射；浮栅器件；可靠性失效；；

英文摘要： The study of irradiation induced reliability failure mechanisms of the charge trapping memory study is important in the radiation hardened space memory systems.This project focus on the physical mechanisms study of high-energy particles in the radiation environment result in oxide and interface trap generation.The density of the traps, the energy distribution of traps in the band gap and the physical model of the degradation will be investigated. This project will provid a theoretical support for the radiation harsh application.

英文关键词： total dose radiation；Flash device；reliability failure mechanisms；；