项目名称: 铁磁性MnSi有序超薄膜在Si基底上的外延生长及其掺杂特性研究
项目编号: No.61176017
项目类型: 面上项目
立项/批准年度: 2012
项目学科: 信息四处
项目作者: 邹志强
作者单位: 上海交通大学
项目金额: 48万元
中文摘要: 近年来的理论研究表明,外延生长在Si基底上的MnSi超薄膜具有50%的自旋极化率和200-300K的居里温度,是很有竞争力的Si基底自旋极化电子注入材料,然而,目前实验上还没有在技术上更为重要的Si(001)基底上外延生长出MnSi有序超薄膜,并且理论预言的居里温度值还没有达到实际应用的要求。本申请拟采用Mn、Si双源共蒸发的分子束外延技术在Si(111)和(001)基底上外延生长铁磁性MnSi有序超薄膜,利用超高真空扫描隧道显微镜、自旋极化扫描隧道显微镜、X射线吸收精细结构、透射电镜、综合物性测量系统(Quantum Design公司)等手段研究生长条件、掺杂元素(Co和C等)和掺杂浓度对MnSi薄膜的生长模式、结构、电学和磁学性能的影响,了解掺杂MnSi超薄膜中铁磁性形成和增强的物理机制,最终在Si基底上外延生长出具有高居里温度的铁磁性MnSi有序超薄膜。
中文关键词: 超高真空扫描隧道显微镜;分子束外延生长;MnSi薄膜;硅基底;电学和磁学特性
英文摘要:
英文关键词: Ultrahigh vacuum scanning tunneling microscopy;Molecular beam epitaxy growth;MnSi thin films;Silicon substrates;Electrical and magnetic properties