考虑集成电路时延变异性的硅后定时验证方法

项目名称： 考虑集成电路时延变异性的硅后定时验证方法

项目编号： No.61176040

项目类型： 面上项目

立项/批准年度： 2012

项目学科： 信息四处

项目作者： 李华伟

作者单位： 中国科学院计算技术研究所

项目金额： 74万元

中文摘要： 硅后定时验证用于发现集成电路设计过程中电气错误导致的电路时延问题。随着特征尺寸细化，集成电路时延变异性越来越显著，电气错误往往被时延变异性所掩盖，给硅后定时验证带来了巨大挑战。本项目将针对时延变异性下电气错误的检测这一关键科学问题开展硅后定时验证研究，主要研究内容包括：1）研究跨层次的电气错误建模方法，一方面集成串扰、电源噪声等动态因素所导致的芯片时延变异性，另一方面将逻辑门级建模的精确性与寄存器传输级（或更高层次）的计算效率有机地结合起来；2）研究时序测试序列对于电气错误的检测质量评估方法，并在考虑工艺参数波动引起的时延变异性下研究面向电气错误检测的功能测试选择方法；3）研究考虑时延变异性的可调试性设计方法，提高硅后定时验证的可观测性以及性能分级的准确性。通过本项目研究，拟提出容忍时延变异性的硅后定时验证方法体系，同时为解决功能测试在电气错误检测中的应用难题提供关键技术。

中文关键词： 定时分析；硅后调试；电气错误；时延变异性；功能测试

英文摘要：

英文关键词： Timing Analysis；Post-silicon Debug；Electrical Bug；Delay Variability；Functional Test