逻辑电路的可靠性估算方法和容错结构研究

项目名称： 逻辑电路的可靠性估算方法和容错结构研究

项目编号： No.61401205

项目类型： 青年科学基金项目

立项/批准年度： 2014

项目学科： 无线电电子学、电信技术

项目作者： 班恬

作者单位： 南京理工大学

项目金额： 27万元

中文摘要： 可靠性的建模、估算和容错技术研究是集成电路中研究的热点问题。在申请人前期的研究基础上，本项目主要研究三方面内容。一是为了实现更精确的可靠性建模，在多错误并发的条件下，结合输入组合建立初级门失效模型；并在门级结合输入组合的概率和可靠性，改进组合和时序电路可靠性估算的准确性。二是通过研究扇出点的个数和位置对可靠性估算精确性的正面和负面影响，在估算的耗时和精确性上找到最佳平衡，解决扇出点导致的估算耗时问题。第三是针对基于SRAM的FPGA，提出LUT的容错结构并评估其容错性能。对LUT的实现结构进行功能等效建模后，提出冗余的LUT结构并研究与其匹配的不同判决算法和结构。通过故障注入和可靠性分析得到容错性能后，再用提出的数学方法比较不同结构在可靠性、面积、功耗和速度方面的性能从而找到性能最佳的容错LUT结构。该项目的成功实施，对逻辑电路的可靠性分析CAD工具和FPGA容错技术研究具有重要的意义。

中文关键词： 容错结构；可靠性估算；部分冗余；LDPC；FPGA

英文摘要： Modeling and assessment of reliability and techniques of fault-tolerance are hot topics in the field of integrated circuits. In this project, we aim to study in three aspects based on our former research. Firstly, to achieve more accurate modeling of reli

英文关键词： fault-tolerant structure；reliability assessment；partial redundancy；LDPC；FPGA