项目名称: 中频脉冲直流磁控溅射放电机理与镀膜应用
项目编号: No.50907071
项目类型: 青年科学基金项目
立项/批准年度: 2010
项目学科: 电工技术
项目作者: 邱清泉
作者单位: 中国科学院电工研究所
项目金额: 20万元
中文摘要: 近几年来,中频脉冲直流磁控溅射在镀膜工艺中得到了越来越多的应用。脉冲电压的幅值、频率、占空比和极性对放电等离子体密度、能量等特征参数有着很大影响,而等离子体特征参数又进一步对镀膜速率、薄膜结构和特性产生影响。因此,对于中频脉冲磁控溅射的放电机理进行研究,对于提高镀膜速率和薄膜质量具有十分重要的意义。然而,目前对中频脉冲磁控溅射的放电机理探讨明显不足。本课题拟以制备Cu薄膜和ZnO薄膜为例,采用理论分析、等离子体仿真、放电特性测量和薄膜特性测量相结合的手段,重点对电源参数对放电特性的影响,以及等离子体参数对薄膜结构和特性的影响展开研究。在此基础上,对电源参数和磁场、基板偏压等其他参数的配合进行优化。
中文关键词: 脉冲直流;磁控溅射;放电;等离子体;薄膜
英文摘要:
英文关键词: pulsed dc;magnetron sputtering;discharge;plasma;film