项目名称: 微凸点中电迁移与Sn晶粒取向相互作用研究

项目编号: No.51475072

项目类型: 面上项目

立项/批准年度: 2015

项目学科: 机械、仪表工业

项目作者: 黄明亮

作者单位: 大连理工大学

项目金额: 85万元

中文摘要: 电子封装技术持续向微型化、高性能发展带来的众多挑战中电迁移已成为一个引人关注的重要的可靠性问题。本项目拟针对微尺度凸点在高电流密度下应用出现的电迁移和Sn晶粒取向之间相互作用所涉及的主要科学问题:定向驱动扩散、各向异性特征、扩散蠕变机制进行系统深入地研究。利用背散射电子衍射与同步辐射X射线微衍射等技术手段,通过原位电迁移实验,对设计的线性焊点和倒装微凸点进行研究,揭示Sn晶粒取向对微凸点电迁移失效的影响机制;确立Sn晶粒取向与溶质原子(空穴)电迁移通量的定量关系;揭示Sn晶粒滑移旋转与电阻下降的驱动力;阐明Sn晶粒滑移旋转的扩散蠕变机理与变形协调机制;阐明Sn晶粒滑移旋转与电阻下降的相关性规律;表征Sn晶粒生长吞并的条件与机制;揭示电迁移对微凸点可靠性和失效机理的影响规律。在理论研究的基础上结合实验提出提高微凸点可靠性的解决方案,辅助以计算机模拟为微凸点连接的可靠性设计提供科学指导。

中文关键词: 微连接;电迁移;各向异性;扩散蠕变;可靠性

英文摘要: With the demands of continuous miniaturization and high-performance of electronic devices,electromigration has become a serious reliability issue.This project is intended to make a deep and systematical research on the major scientific issues on the interaction between electromigration and Sn grain orientation, which is involved in the application of micro bumps undergoing electromigration at high current density, i.e., the directionally driven diffusion,the anisotropic characteristics and the diffusion creep mechanism. The in situ electromigration experiments of the line-type interconnects and flip-chip micro bump swere conducted using the electron backscattered diffraction and the synchrotron radiation X-ray microdiffraction,in order to reveal the effect of the Sn grain orientation on the electromigration failure mechanism, clarify the quantitative relationship between the Sn grain orientation and the flux of solute atoms(holes), reveal the driving force ofthe resistance drop andthe Sn grain slip and rotation, elucidate the diffusion creep and deformation coordination mechanisms of the grain slip and rotation,expound the correlate law between the resistance decrease and the grain rotation and slip,characterize the conditions and mechanisms of the Sn grain growth and annexation, reveal the influence of the electromigrationon the reliability and failure of micro bump. Combining the experimental result and the theoretical study, propose the solutions to enhance the reliability of micro bumps;meanwhile,computer simulation is used to provide a scientific guidance for the reliability design of micro bumps.

英文关键词: Microjoinning;Electromigration;Anisotropy;Diffusion creep;Reliability

成为VIP会员查看完整内容
0

相关内容

Nat. Mach. Intell. | 分子表征的几何深度学习
专知会员服务
24+阅读 · 2021年12月26日
基于流线的流场可视化绘制方法综述
专知会员服务
25+阅读 · 2021年12月9日
卷积神经网络压缩中的知识蒸馏技术综述
专知会员服务
54+阅读 · 2021年10月23日
【经典书】半监督学习,524页pdf
专知会员服务
134+阅读 · 2021年8月20日
专知会员服务
24+阅读 · 2021年6月17日
专知会员服务
31+阅读 · 2021年5月7日
【CVPR2021】重新思考BiSeNet让语义分割模型速度起飞
专知会员服务
32+阅读 · 2021年5月5日
【AAAI2021】基于双任务一致性的半监督医学图像分割
专知会员服务
30+阅读 · 2021年2月7日
消失的巨轮|焦点分析
36氪
0+阅读 · 2022年2月23日
你的哪类电子产品换新频率最高?
ZEALER订阅号
0+阅读 · 2022年1月11日
人工神经网络在材料科学中的研究进展
专知
0+阅读 · 2021年5月7日
小芯片大安全:数字隔离器的前世今生
中国科学院自动化研究所
0+阅读 · 2021年3月16日
【材料课堂】TEM复杂电子衍射花样的标定原理
材料科学与工程
39+阅读 · 2019年4月12日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2013年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2013年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2012年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2012年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2012年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2011年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2011年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2011年12月31日
Arxiv
0+阅读 · 2022年4月21日
Arxiv
14+阅读 · 2020年10月26日
Learning from Few Samples: A Survey
Arxiv
77+阅读 · 2020年7月30日
Arxiv
10+阅读 · 2018年4月19日
Arxiv
15+阅读 · 2018年4月3日
小贴士
相关VIP内容
Nat. Mach. Intell. | 分子表征的几何深度学习
专知会员服务
24+阅读 · 2021年12月26日
基于流线的流场可视化绘制方法综述
专知会员服务
25+阅读 · 2021年12月9日
卷积神经网络压缩中的知识蒸馏技术综述
专知会员服务
54+阅读 · 2021年10月23日
【经典书】半监督学习,524页pdf
专知会员服务
134+阅读 · 2021年8月20日
专知会员服务
24+阅读 · 2021年6月17日
专知会员服务
31+阅读 · 2021年5月7日
【CVPR2021】重新思考BiSeNet让语义分割模型速度起飞
专知会员服务
32+阅读 · 2021年5月5日
【AAAI2021】基于双任务一致性的半监督医学图像分割
专知会员服务
30+阅读 · 2021年2月7日
相关资讯
消失的巨轮|焦点分析
36氪
0+阅读 · 2022年2月23日
你的哪类电子产品换新频率最高?
ZEALER订阅号
0+阅读 · 2022年1月11日
人工神经网络在材料科学中的研究进展
专知
0+阅读 · 2021年5月7日
小芯片大安全:数字隔离器的前世今生
中国科学院自动化研究所
0+阅读 · 2021年3月16日
【材料课堂】TEM复杂电子衍射花样的标定原理
材料科学与工程
39+阅读 · 2019年4月12日
相关基金
国家自然科学基金
0+阅读 · 2013年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2013年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2012年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2012年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2012年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2011年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2011年12月31日
国家自然科学基金
0+阅读 · 2011年12月31日
微信扫码咨询专知VIP会员