光学元件缺陷模型宏观描述方法研究

项目名称： 光学元件缺陷模型宏观描述方法研究

项目编号： No.10976034

项目类型： 面上项目

立项/批准年度： 2010

项目学科： 无线电电子学、电信技术

项目作者： 谢志江

作者单位： 重庆大学

项目金额： 36万元

中文摘要： 研究内容主要包括光学元件广义疵病（含表面疵病、内部疵病和表面洁净度等）的检测方法、宏观描述模型和扩散数学模型。进行广义疵病检测原理实验，得到含有广义疵病形状和分布等信息的数字图像。以数字图像处理获得的广义疵病图像特征参数为输入，结合光学元件特性和用途等信息，以描述广义疵病对激光传输性能和负载能力影响程度的评价特征值为输出，实现表面疵病、内部疵病和表面洁净度等效化归一化描述，建立广义疵病宏观描述模型，得到光学元件评价特征值。以评价特征值、激光功率密度、环境洁净度和脉冲数量等为输入，以光学元件使用寿命为输出，建立广义疵病扩散数学模型。根据样品测试、使用情况和有关成果修正以上模型，使评价特征值的不确定度小于15%，使用寿命预测的准确率大于80%。项目将在神光-Ⅲ#24037;程等高功率固体激光装置中为光学元件广义疵病检测、宏观描述和寿命预测提供创新的有效的评价方法和手段，研究成果可应用到其它相关领域。

中文关键词： 表面缺陷；特征参数；宏观描述模型；光束近场；损伤

英文摘要：

英文关键词： surface defect；feature parameters；macroscopic description model；near-field quality；damaging