铁电柔性电子中铁电薄膜失效机理研究

项目名称： 铁电柔性电子中铁电薄膜失效机理研究

项目编号： No.10902057

项目类型： 青年科学基金项目

立项/批准年度： 2010

项目学科： 金属学与金属工艺

项目作者： 戴隆超

作者单位： 扬州大学

项目金额： 20万元

中文摘要： 可延展柔性电子由于具有柔性、可延展性，将可开创全新的应用领域，因而柔性电子的研究及应用必将对人类的生活产生巨大的影响。铁电薄膜具有许多优越的性能，在柔性电子器件中有着重要的应用前景。然而铁电材料本身具有一个明显不足，即大部分铁电材料都非常脆，容易发生断裂。本项目以铁电薄膜为研究对象，以可延展铁电柔性电子中的断裂问题为研究重点，以澄清多层铁电薄膜/基体结构的破坏模式和断裂机理为目标，针对多层铁电薄膜/基体结构中的脱层与断裂破坏模式，采用理论求解和数值分析的方法来分析、探讨多场耦合环境下的破坏原因，着重阐明温度与残余应力、裂纹、界面、薄膜厚度等主要因素对界面、自由边缘等关键部位的应力分布的影响，以及各因素之间的相互作用；同时，采用有限元模拟和试验的方法来对主要分析结论进行验证。

中文关键词： 可延展柔性电子器件；铁电薄膜；破坏模式；断裂机理；

英文摘要：

英文关键词： Flexible and Stretchable Elect；Ferroelectric Film；Failure Modes；Fracture Mechanism；