电子系统内建自测试通用模型构建及其测试策略优化方法研究

项目名称： 电子系统内建自测试通用模型构建及其测试策略优化方法研究

项目编号： No.61301011

项目类型： 青年科学基金项目

立项/批准年度： 2014

项目学科： 无线电电子学、电信技术

项目作者： 朱敏

作者单位： 哈尔滨工业大学

项目金额： 28万元

中文摘要： 为解决复杂电子系统测试与故障诊断问题，本项目提出建立电子系统内建自测试通用模型的方法，并在此模型基础上进行测试策略优化方法研究。建立通用的混沌自动测试矢量生成匹配模型，减少测试矢量长度、缩短测试时间、降低测试功耗、提高抗随机故障检测率；针对模拟电路内建自测试存在的问题，提出基于PWM信号的自动测试矢量生成及其输出响应分析的多维故障特征空间构建方法，通过数据挖掘提取有效故障特征信息，提高模拟电路参数容差型故障可隔离定位的精度；研究电子系统内建自测试可测试性建模方法，从电子系统的不同层次建立可测试性统一数学形式化描述模型；在此基础上，完善电子系统内建自测试故障诊断测试策略，建立多故障诊断模型和逻辑行为故障诊断推理机制；最后，研制电子系统内建自测试通用性的基础测试电路。通过本项目的研究工作，为推进和完善电子系统内建自测试技术的通用性和基础性研究提供相应的理论和技术支撑。

中文关键词： 内建自测试；测试性建模；测试矢量生成；特征提取；测试策略优化

英文摘要： In order to solve the problem of testing and fault diagnosis of complex electronic systems, the electronic system built-in self-test universal model and test strategy optimization based on the model is proposed in this project. Universal chaotic automatic test pattern generation matching model is established to reduce the test pattern length, shorten the test time, and reduce test power consumption, improve the anti-random fault detection rate; Automatic test pattern generation of the PWM signal and the output response analysis of multi-dimensional fault feature space is proposed for analog circuits BIST. Through data mining methods to extract the effective fault characteristic information, it can improve fault isolation rate of analog circuit parameter tolerances failure; Universal testability unified mathematical formalization description model from different levels of the electronic system is proposed; We establish multiple fault diagnosis model and logical behavior of fault diagnosis inference mechanism to improve electronic systems BIST fault diagnosis optimization strategy; Finally, the electronic systems BIST universal basic test circuit prototype is invented;Through the research work of the project, theoretical and technical support is provided for the electronic systems BIST design and testability. The

英文关键词： BIST；Testability Modeling；Test Pattern Generation；Feature Extraction；Test Strategy Optimization