聚焦CCF CTC2018 ：AI、无人驾驶引领热潮，容错备受瞩目

2018 年 8 月 21 日 中国计算机学会

8月15日-17日，第十届中国测试学术会议（CTC 2018）在哈尔滨召开。参会人数超过 500 人，是本年度国内测试、容错、可信度领域规模最大、规格最高、影响最广的一次学术界盛会。

8 月 15 日-17 日，由中国计算机学会（CCF）主办、CCF容错计算专业委员会和哈尔滨工业大学共同承办的第十届中国测试学术会议（CTC 2018）在哈尔滨召开。本次会议与国际会议 International Test Conference in Asia 2018 (ITC-Asia)、International Workshop on Cross-layer Resiliency 2018 (IWCR) 联合举办。会议邀请了30 多位 IEEE/ACM/CCF Fellow 等顶级专家以及企业代表携手 11 场大会特邀报告，7 个高端产业论坛，50 多场论坛特邀报告， 60 多场学术论坛报告，参会人数超过 500 人，是本年度国内测试、容错、可信度领域规模最大、规格最高、影响最广的一次学术界盛会。

会议开幕式由容错计算专委秘书长韩银和主持，容错计算专委主任李华伟致欢迎词，中国计量测试学会秘书长马爱文、IEEE TTTC President Yervant Zorian， IEEE TTTC Chair Chen-huan Chiang、ACM SigDA 主席 Sharon HU、 CTC2018 主席杨孝宗和李晓维致开幕词，程序会议主席董剑介绍本次会议概况。

大咖云集，汇聚一堂

本次大会的演讲嘉宾汇聚了 30 多位来自世界各地的学术界和业界顶级专家以及全国专业人士，共同探讨测试、容错、可信度等领域的最新研究进展和发展趋势，一起推动集成电路设计测试技术的发展。

主题报告，无人驾驶、人工智能等新型系统可靠性问题成为热点

15号上午的四位特邀讲者分别做了精彩的学术报告。演讲主题涵盖人工智能算法硬件加速、无人驾驶电子系统可靠性、关键软件设计与错误定位、无人电动汽车等热门话题，切中当前国家布局集成电路领域的核心问题和关键技术。

美国圣母大学的 X. Sharon Hu 教授做了题为“A Cross-Layer Perspective for Energy Efficient Processing—from Beyond-CMOS Devices to Deep Learning” 的主题报告。胡教授从跨层设计的角度，介绍了采用新型器件在非冯诺依曼体系结构的应用。尤其通过探究新型器件独有的行为特征，辅以新电路，新结构来提升功耗和性能，最终透过对应用程序的评测可以体现跨层设计的综合收益。

Synopsys 公司亚美尼亚区总裁 Yervant Zorian 博士做了题为“Automotive Electronics Today: Quality, Safety & Security”的主旨报告。自动驾驶技术正在飞速发展，其中最重要的是保证驾驶安全。Yervant 提到，“人类会犯错，机器也会犯错，但我们要保证机器比人犯更少的错”， Synopsys 公司提供了自动驾驶领域一站式解决方案，包括芯片 IP，EDA 工具和系统设计，以及芯片和嵌入式系统级测试，支持离线测试和在线测试。测试在自动驾驶是安全保证中最重要的一环，我国在该领域还期待更长足的发展和创新。

美国德州大学达拉斯分校的 W. Eric Wong 教授做了题为“Automotive Electronics Today: Quality, Safety & Security”的主旨报告。针对当前复杂软件系统的多缺陷问题，W. Eric Wong 教授在演讲中介绍了基于类聚方法的缺陷定位技术。该项技术通过解决失败测试用例距离定义、类聚集合数量确定和类聚算法选择这三方面问题，极大地提高软件缺陷定位的准确性和效率。软件系统安全是网络空间安全战略发展中尤为重要的方面，该报告从多个维度指出了当前软件系统安全加固的关键环节。

韩国科学与技术高等研究院 KAIST 的 Naehyuck Chang 教授做了题为“Design Automation of Low-power Battery Electric Vehicles”的主旨报告。能效问题一直是电动汽车设计中最富挑战的议题之一，Naehyuck Chang 教授在报告中介绍了一个他们开发的瞬时功耗模型，该模型充分考虑了电动汽车重量、速度、加速度、道路斜率等综合因素以保证其高可信度。报告中还介绍了一种在设计阶段的快速综合方法，可大幅提升电动汽车动力系统的能效。

今年CTC会议呈现出和过去不一样的特点，从中也可以看出行业发展的热点。第一，电动汽车电子系统，无论是测试、可靠性还是设计自动化，成为大家高度关注的对象，而不仅仅只关注集成电路或软件。今年会议的四个大会报告，有2个介绍了在无人驾驶、电动汽车可靠性以及信息安全、设计自动化方面的工作。这主要因为最近几年，无人驾驶方向无论是学术界还是企业界参与度都非常高，而无人驾驶的可靠性和信息安全至关重要，做得不好就是车毁人亡。前一段时间的特斯拉无人驾驶造成了第一宗自动驾驶系统致人死亡的车祸，其主要原因就是在特别自然条件下，无人驾驶系统未能对突发情况做出及时的判断，从而导致事故。第二，人工智能技术在测试和EDA领域应用逐步增多。基于人工智能的自动化测试技术，基于人工智能的敏捷EDA技术成为大家关注的热点。今年大会安排的集成电路领域顶级会议ICCAD的预讲，很多论文都讨论了这方面的技术，这是一个风向标。在ITC-Asia安排的“人工智能和测试”的panel上，大家的讨论也非常热烈，芯片测试数据的如何得到，机器学习模型如何选择等都是大家讨论的热点。

论坛讨论，精彩纷呈

除了重磅的主题演讲外，专委副主任、同济大学江建慧教授和上海交大蒋力博士作为论坛主席，组织了七个前沿技术专业论坛和 ICCAD 论文预讲大会，针对集成电路、软件、汽车电子系统等可靠可信领域关键问题和最新研究进展，邀请了 50 多名学术和产业专家到会报告。

开源硬件和智能芯片论坛 ：执行主席北京大学罗国杰副教授，论坛邀请了领域著名学者：中科院计算所的包云岗研究员、清华大学的汪玉教授、北京知存科技CEO王绍迪博士等一起研讨。大家一个相同的看法就是，正如软件开源带来的互联网计算基础设施的低成本化和快速迭代，推动了中国互联网产业的跨越式发展，开源芯片也将是一个趋势，而且是我们国家发展芯片产业的一个重要机遇，应该及时跟进，并为开源芯片社区建设作出根基性贡献。

安全关键软件测试技术论坛：执行主席为专委副主任、陆工大的黄松教授，本次论坛聚焦安全关键软件测试技术，围绕如何有效开展代码安全测试和自动测试两大焦点，邀请了14位领域专家进行了专题报告。会议吸引了来自全国50余家测评机构上百位参会代表。中电28所和广五所等单位分享了最新的安全关键软件测试架构，这为建立领域通用测试平台提供了可行方案！北航和陆工大等高校单位分享了该领域可落地的测试与评估新技术，旋极科技、创景科技、迪真科技等单位技术总监分享了高效的测试平台。

通过本次论坛，在安全关键软件代码国产化自主测试技术，测试用例生成技术落地，大型软件测试平台建设等多个方面形成了共识！第一，在安全关键软件代码静态测试方面，肯定了国产化自主测试平台的技术先进性，确定了多个自主测试平台的适用环境，这为各家测评中心选用该类测评工具提供了依据。第二，在测试用例生成技术落地方面，确定了以需求为依据的用例生成策略，摒弃了传统以代码覆盖为依据的生成策略，该结论为后续测试用例生成工具的设计和采购提供了技术依据。第三，在面向大型系统测试平台建设方面，提出了基于私有云的架构，在测试资源自动分配，测试用例自动生成和执行，测试结果的智能评估等方面提供全面支持。

ICCAD论文预讲论坛：上海交大的蒋力副教授和浙江大学的卓成教授组织了集成电路领域顶级会议ICCAD的预讲，今年ICCAD程序委员会主席，UT Austin大学的David Pan教授为预讲会议开场。今年ICCAD接受率在25%左右，共计98篇论文入选，其中来自国内的研究团队共有11篇论文，占总接受数的11%。预讲会议为国内EDA领域的学者提供了交流平台，收到了各个院校及研究所的大力支持，共十个研究团队参加了预讲会议，并就他们的工作做了精彩讲解。其中深度学习依然是研究热点，来自北大（2篇）、清华、上交（3篇）及中科院的团队分别就器件、算法、架构及框架等多个给层次进行了深刻的剖析和讨论。其他团队包括浙江大学、西北工业大学和复旦大学等团队则更着眼于传统EDA领域就硬件安全性、数据重用性、近似计算、电源及物理设计等方面针对低功耗、高能效的目标提出了一系列新颖的优化解决方案。预讲会议作为介绍国内EDA领域工作的一个窗口，不仅给ICCAD入选论文的相关团队提供了交流讨论的平台，也受到容错领域设计、器件及架构等相关研究团队的关注，就多个话题展开了切实而热烈的讨论，参会各方都受益良多。从最近几年ICCAD接受的论文来看，人工智能技术已经在EDA领域有了越来越广泛的应用，对进一步提升设计的自动化能力提供了有力的技术手段。

硬件安全论坛：本次全国硬件安全论坛的执行主席、程序主席分别是湖南大学张吉良副教授、南京航空航天大学薛明富博士和中科院计算所叶靖博士。论坛就物理不可克隆函数、硬件辅助软件安全，硬件木马以及物联网安全等硬件安全研究方向做了精彩学术报告，探讨了硬件安全技术产业化面临的挑战及对策。

北京大学冯建华教授讲述了当前硬件木马的研究现状，最后总结了该领域目前研究面临的难题。温州大学汪鹏君教授简述了物理不可克隆函数的发展历程，详述了学术界和产业界的研究现状，重点分析了当前PUF存在的安全威胁。湖南大学张吉良副教授介绍了硬件安全领域的新的研究方向硬件辅助安全，深入浅出的讲解如果从体系结构硬件层面辅助系统软件安全，吸引了与会人员的关注。北京大学深圳研究生院崔小乐教授讲述了以忆阻器为代表的新器件理不可克隆函数的研究现状，深入解析了当前新器件PUF面临的挑战及研究机会。西北工业大学胡伟副教授讲述了硬件安全验证的研究方向及挑战。绿盟科技刘文懋总监讲解了最新的物联网智能设备的破解与防御方法，表达了魔高一尺道高一丈的乐观观点。ICTK执行副总裁David Bak重点讲述了该公司研发的VIA PUF及其产品的应用。最后，硬件安全领域著名学者美国马里兰大学的屈钢教授组织了硬件安全技术产业化面临的挑战及对策议的Panel。Panel嘉宾一致认为，硬件安全技术可以使产品更加安全，如果能在安全性和代价上获得平衡以及找准其适合的杀手锏级的应用，硬件安全技术将大有作为。最后华为硬件安全技术部负责人章庆隆博士认为制定硬件安全的标准制定对硬件安全技术产业化至关重要，华为希望与学术界组建联合实验室、加大产学研的交流。

EDA领域获奖论坛：清华大学喻文健副教授组织了这次论坛，聚焦最近几年学者在国际EDA领域顶级会议和竞赛上取得的一些喜人突破，获奖者分享了他们的经验。杜克大学的李昕老师首先表明要想说清楚如何才能获BPA几乎是一个无解的问题。然后他从“Best Paper”中的Best词切入，提出科研要追求的BEST准则：Big idea，Elegant theory，Superior efficacy，Transformative technology。既要有大胆的、并非只是改进现有工作的想法，要有理论支撑，要有优越、且较普遍适用的效果，后续还要长期努力使之成为革命性的、影响业界的技术。陈建利老师列举了他近期的几篇相关论文获得最佳论文奖和提名的情况，表明热门课题相对较容易获奖，但同时也表示无论题目是否热门，工作的质量可能更重要。叶佐昌老师回顾了其获奖论文工作与企业合作的情况，呼吁大家多与国内的EDA企业合作，从获得问题、数据与资助的角度来说可能比与国际大公司合作更容易。同时表明对于获奖要有平常心，将自己的研究成果落到实际应用才是真正的目的。王颖老师回顾了多次参加电路设计竞赛的经历，指出参加竞赛是对低年级学生很好的锻炼，能够增强学生的研究兴趣，同时给课题组提供团建经费。在回答了几个观众问题后，最后嘉宾们总结了做好研究的关键因素。兴趣/Motivation, 工业界/实际问题，耐得住寂寞。

存储可靠性论坛：石亮博士组织了本论坛，论坛邀请了国内顶级专家学者和企业界代表共同探讨了存储技术的可靠性。华中科技大学的吴非教授重点介绍了他们在3D FG和CT两种类型的闪存芯片上的大量测试研究，发现了大量并未透露的存储可靠性特征，为闪存的可靠性设计提供了新的突破。广东工业大学的韩国军教授则从闪存纠错码LDPC的设计角度展开了深入的探讨，重点介绍了如何利用闪存的错误特征提升纠错的能力。企业界代表，深圳得一电子的罗挺技术总监，则将他们在实际产品中发现的多个错误特征和相应的解决方案进行了介绍，内容非常新颖。为学术领域提供了更多实际问题。哈尔滨工业大学的魏德宝博士从事大量军工类存储可靠性研究，他们设计了一系列的可靠性分析平台。武汉理工大学的杜亚娟博士则从LDPC纠错码的读性能优化角度提供了新的思路，为LDPC的优化设计提供了重要理论支持。

最后本论坛对业界和学术界的多个问题进行套深入的探讨，论坛得到了得一电子和华为的重要支持。论坛对整个存储可靠性技术的推进提供了一个重要的平台。

从芯片到系统的测试挑战与应对方法论坛：论坛主席为清华大学向东教授，随着半导体工艺不断演进以及新工艺的不断出现，散热、延迟以及工艺波动等复杂因素给芯片测试带来极大挑战，本论坛将探讨温度感知的延迟测试，超速延迟测试，以及在传统和新型工艺下应对工艺波动的测试技术。来自国际芯片测试巨头Mentor的Principle Engineer黄宇博士分享了测试技术工业界发展的趋势，强调了由于设计成本太高增长太快带来的测试挑战，分享了测试领域内concurrent design的新的设计方法。他也分享了测试技术在汽车电子系统、自动化诊断系统等方面的重要应用。阿里巴巴的高级技术专家王式文给大家分享了阿里巴巴服务器集群测试系统的搭建框架，指出了其中对新测试技术，智能测试流程设计的研究需求。来自寒武纪科技的李威副总经理分享了人工智能加速器芯片的测试基准。与会专家一致认为随着国内集成电路发展以及产业升级对质量的新要求，测试技术将会在2025中国制造宏伟蓝图上发挥越来越重要的作用。

首届CCF集成电路Early Career Award（奖）揭晓，福州大学陈建利副教授获此殊荣

中国计算机学会 CCF 集成电路 Early Career Award 针对工作不超过 6 年的青年学者设立，为从事集成电路方向的青年学者早期职业生涯提供支持。这是目前中国计算机学会体系内唯一的一个集成电路专业奖项，今年启动第一届评选。

在开幕式的最后一个重磅环节，评奖委员会主席汪玉教授宣布首届 CCF 集成电路 Early Career Award 授予福州大学的陈建利博士，以表彰陈建利博士在超大规模集成电路电子设计自动化领域所做的贡献。

陈建利博士一直专注于超大规模集成电路布局问题的研究。通过 10 年来不断的累积以及版本改进，陈建利博士设计可高效处理元件规模达到千万级的布局工具，成果斐然。2017 年，陈建利博士的第一作者论文获得 EDA 领域旗舰会议第 54 届电子设计自动化会议 DAC2017 最佳论文奖，该奖项为 DAC 会议有史以来中国大陆高校首次以第一单位获奖。

2017 年 11 月，陈建利博士及其团队以巨大优势获得第 36 届国际集成电路计算机辅助设计会议 ICCAD 所举行的学术竞赛（历时 9 个月）全球第一名，为该赛事有史以来中国大陆首次获得冠军。此外，2018 年陈建利博士的五篇论文被第 37 届 ICCAD 录用，其中一篇论文获得布局/版图规划领域最佳论文奖。

台湾大学电机资讯学院院长张耀文教授评价陈建利博士为 EDA 领域国际上耀眼的青年学者，他的研究成果对集成电路及相关领域的发展将产生深刻的影响。陈建利博士的获奖正是对集成电路设计领域踏实耕耘、勇于创新的研究者们莫大的肯定和激励。

该奖项的赞助方摩尔精英创始人兼CEO张竞扬为陈建利博士颁发了本届CCF 集成电路 Early Career Award并表示，人才是半导体产业发展的引擎，中国集成电路产业起步晚、发展快，目前国内相关从业人员缺口高达40万，半导体产业能否持续吸引像陈建利教授一样的优秀年轻人加入至关重要。吸引年轻人靠什么？情怀，责任，也需要收益，而摩尔精英通过整合半导体专业服务，加速芯片公司发展，让芯片企业特别是初创公司用1/3的钱，1/3的人，1/3的时间，完成同样的芯片设计。

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