同步辐射高分辨X射线发射谱方法及其在材料电子结构中应用

项目名称： 同步辐射高分辨X射线发射谱方法及其在材料电子结构中应用

项目编号： No.11175244

项目类型： 面上项目

立项/批准年度： 2012

项目学科： 物理学II

项目作者： 黄宇营

作者单位： 中国科学院上海应用物理研究所

项目金额： 95万元

中文摘要： X射线吸收谱学是研究材料局域原子和电子结构的一种重要分析方法，它能提供吸收原子周围几何和电子结构信息，如键长、键角、配位数和化学价态等，可用于表征材料结构和特征，而同步辐射高分辨X射线发射谱学（High Resolution X-ray Emission Spectroscopy），是利用高能量分辨分析晶体谱仪，来研究电子跃迁发出的更精细的光谱。这样两种方法的结合，可以研究过渡金属及Pt系复杂d电子环境，镧系稀土元素和锕系复杂f电子环境的电子结构问题，从而获得具有这类电子关联特性的铁基超导材料、纳米催化材料以及核能材料更精细的电子结构。目前这是国际第三代同步辐射实验技术和先进材料电子结构分析发展的最新的一种实验方法结合。在上海光源上发展并应用此新技术，将有助于更深入认识铁基超导材料、纳米催化材料以及核能材料等这类复杂电子体系材料的电子结构与材料功能的关系，为能源与环境科学研究做出重要贡献。

中文关键词： 同步辐射；高分辨X射线发射谱；X 射线吸收精细结构谱；核能材料；电子结构

英文摘要：

英文关键词： synchrotron radiation；high resolution X-ray emission spectroscopy；X-ray Absorption Fine Structure；nuclear energy materials；electronic structure