处理器的指令级自测试方法

项目名称： 处理器的指令级自测试方法

项目编号： No.61404092

项目类型： 青年科学基金项目

立项/批准年度： 2014

项目学科： 无线电电子学、电信技术

项目作者： 张颖

作者单位： 同济大学

项目金额： 25万元

中文摘要： 随着我国高端通用芯片的长足发展，有效检测它们面临严峻挑战，高端芯片需要先进的测试技术。指令级自测试是一种通过运行正常程序、在线检测芯片的新型测试方法，在简单处理器上已达到了高故障覆盖率。本项目围绕高端处理器固定型故障和时延故障开展指令级自测试方法研究：1、研究超标量乱序执行处理器的指令级自测试方法；2、研究片上网络的指令级自测试方法；3、研究时延故障的指令级自测试方法。通过本项目的研究，课题组拟提出有界模型检验引导的指令级自测试方法，在超标量乱序执行处理器上达到高故障覆盖率；研究并行的指令级自测试方法，为片上网络提供低开销的自测试程序，支持新架构的动态重配置；提出高覆盖率的时延故障指令级自测试方法，以内升温方式检测计算机系统高温下是否稳定工作。本项目不仅有望降低处理器测试对高速测试仪的依赖，节省芯片成本，而且将提供一种高故障覆盖率的现场测试方法。

中文关键词： 指令级自测试方法；乱序超标量处理器；有界模型检验；片上网络；温度感知的测试

英文摘要： With the further development of our native high-end general chips, it becomes a great challenge to test them effectively, and the high-end chips require the advanced test technology. Software-Based Self-Testing (SBST) has been a promising test method

英文关键词： software-based self-testing；out-of-order superscaler processor；bounded model checking；network-on-chip；temperature-aware test