DFTracker: 通过多污点并行追踪检测double-fetch缺陷

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       竞争条件是触发并发缺陷的常见原因。在特殊情况下，竞争条件也可以在内核空间与用户空间之间发生，造成double-fetch缺陷，目前对该问题的研究尚少。本文首先分析了真实的double-fetch案例，并抽象出double-fetch缺陷的两种特定模式。基于抽象的特定缺陷模式，提出了一种基于多污点并行追踪的方法以检测double-fetch缺陷,并实现了原型工具DFTracker。

      我们通过测试程序对其进行测试评价，实验显示DFTracker可以有效检测到测试程序中的double-fetch缺陷，其中包括8个真实缺陷，且没有产生漏报，仅有少量误报。我们将DFTracker在Linux内核上进行测试，发现了一个新的double-fetch缺陷。DFTracker对单文件进行分析的时间开销为2x，对完整Linux内核进行分析的时间开销为9x。

      本文首次将多污点并行追踪技术引入到double-fetch缺陷的检测中，是一种针对double-fetch缺陷特性的创新性检测方法；相比于广泛使用的动态检测方法，该方法具有路径覆盖率高、运行时开销低等优点。

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